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光学仪器及设备
DRV-Z1人机工效学全高清FHD裸眼3D变倍观察
美国SONIX超声显微镜ECHO VS
发射扫描电子显微镜ReguluS
扫描电子显微镜FlexSEM 1000
扫描电子显微镜AeroSurf 15
场发射透射电子显微镜HF-3300
透射电子显微镜HT7800系列
球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700
离子溅射仪MC1000
场发射扫描电镜热场式SU5000
测量/计量仪器
2D大视场测量显微镜TVM35
高精度光学测量显微镜Hawk Elite
工具测量显微镜Swift Pro Elite
尼康CNC影像测量VMZ-R3020
德国Werth三坐标测量机
Werth台式复合式光学三坐标测量机VideoCheck-IP
Werth台式复合式光学三坐标测量机ScopeCheck
Werth双频白光干涉白点测量传感器WIP
Werth自动寻边的测量机EasyScope 3D man
Werth高精度复合式光学三坐标VideoCheck IP Basic
制样/消解设备
Allied楔形电子显微镜制样夹具
Allied手工样品固定器
Allied自动磨抛机E-PREP 4™ (PH-4I™ )
Allied自动研磨抛光机MetPrep 3™
Allied自动研磨抛光机MetPrep
Allied自动注液机AD-5™
Allied双盘手动磨抛机TwinPrep 5™
Allied手动研磨抛光机MetPrep 1™
Allied手动研磨抛光机M-Prep 5™
Allied基材厚度测量仪X-PREP® VISION™
无损检测/无损探伤仪器
Werth计量型CT TomoScope L
Werth计量型CT TomoScope S
Werth计量型CT TomoScope S HA
Werth计量型CT TomoScope XL
Werth计量型CT TomoScope XL NC
Werth计量型CT TomoScope XS
尼康CT扫描工作站XTH450
尼康CT扫描工作站XTH225
尼康CT扫描工作站XTH320 LC
尼康X射线检测站XTV160
半导体行业专用仪器
化学开封机Elite Etch Cu ESD 7200
化学芯片开封机Elite Etch Cu 7100
化学芯片开封机Injector 7400
化学芯片开封机Mega Etch 7300
Nisene化学芯片开封机TotalProtect
Nisene化学芯片开封机JetEtch Pro
激光单粒子效应SEE测试仪
Nisene化学芯片开封机CuProtect
Nisene等离子芯片开封机PlasmaEtch
化学芯片开封机Elite Etch 7000
其他
布洛维通用硬度计DuraVision G5
洛式硬度计DuraJet G5
全自动显微维氏硬度计DuraScan G5
便携式齿轮洛式硬度计N7
便携式深孔内径硬度计N6P
相关仪表
Aberlink-Trimos关节臂坐标测量机
联系方式 |
产品系列
概述
Swift PRO Elite 是一款高精度光学测量显微镜,旨在提升您的测量与检测能力。
通过 Swift PRO Elite 的****无目镜光学观察头体,可以呈现光学显微级分辨率,观察小型精密、复杂零件,甚至是难以观察的样品(如透明塑料),确保轻松完成精确测量。
Swift PRO Elite 功能强劲,结实耐用,非常适用于车间生产,可以简单而精准地测量精密零件。
产品优势
十分适合测量复杂零件上的细小特征
Z轴可选,三坐标测量可测高度
Dynascope 无目镜光学技术可清晰界定测量对象边缘,提供**的分辨率和对比度。
测量范围达 200mm x 100mm
可选配结实耐用的微处理器,或是界面直观的 PC 软件
传统工具显微镜或轮廓投影仪的理想升级替代之选
Swift PRO Elite 是提升测量与检测能力、改进质量控制的**起点。
详细信息
什么是 Dynascope™ 无目镜光学技术?
Swift PRO Elite 采用 Dynascope 无目镜光学技术,无需传统显微镜的目镜,可以为用户提供观察对象的高质量图像。
黑色背景上测量黑色物体? 白色背景上测量白色物体? 透明物体? 可以极其详细地查看所有难以观察的特征,并轻松实现精确测量,这并非轮廓投影仪或者其它视频测量系统所能完成的。
简易 耐用 精确
Swift PRO Elite 旨在应对繁忙生产环境的需求,配备了Vision Engineering久经证明的 200mm x 100mm 精密测量台。
该平台在出厂前完成了非线性误差修正(NLEC)校准,可确保**精度,可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以符合ISO9000质量认证。
Swift PRO Elite 设备体积小,不会占据太多空间,却能让您的产品质量有很大飞跃。
应用范围……
全世界各行业客户将Vision Engineering的测量系统用于多种多样的非接触式测量应用领域,包括:
塑料零件(例如接头、瓶子、模塑件)
医疗器械(例如植入介入器材、管件、血管支架)
精密工程零件(例如航空航天、汽车、国防)
钟表制造
一般制造业
NLEC 测量台校准
非线性误差修正(NLEC)是当前可用*精确的修正方法,该方法采用软件算法计算并修正整个测量台上的所有误差。 所有测量台安装前都已在工厂完成 NLEC 校准。
软件
Swift PRO Elite 可选配结实可靠的微处理器,也可选配功能强大的 M 系列测量软件,以获得完整的解决方案。
直观的 PC 软件
直观的 M 系列软件核心特色在于“简易”,可简化复杂的工作步骤,所以轮班工人可以像高级用户那样轻松使用。
PC 版测量软件十分直观,可在大尺寸显示器上查看
快速进行轮廓与表面测量,无需预编程序
轻松导出报告和数据
类似CAD的零件视图标记,方便检测测得数据。
ND 122 微处理器
这台经久耐用的微处理器既结实耐用又操作简单,非常适用于车间环境,能减少操作人员误差,同时可以**限度缩短培训时间。
QC 3000 微处理器
QC 3000 采用美观而坚固的工业设计,非常适合在恶劣生产环境下轻松快捷地测量 2D 几何特征。
光滑的铝质外壳,集成电源和无风扇被动散热装置,极其坚固耐用并能承受多种不利影响。
12.1 英寸触摸屏采用特殊钢化玻璃制成,支持多点触控手势控制,并可戴手套操作。
突出优势
用于测量常见几何特征的快捷方式图标(例如点、线、圆形、凹槽和矩形)
轻松创建报告,测量之后立即生成
结实耐用的 IP65 防泼溅触摸屏面板,十分适合车间环境
技术
测量不确定度
(X,Y)
不确定度公式 U952D = 5+(6.5L/1000)μm
L = 长度,以 mm(毫米)为单位,在标准测量平面上采用放大 100 倍的受控条件 通过缩短测量长度和原位系统校准可提高准确度。
(Z) Z 轴精度 10μm,采用放大 100 倍的受控条件
光学器件
**双光瞳单目镜 Dynascope™无限远修正光学系统,十字光标网格已经预先居中与双眼对齐。
可定制网格并使其预先居中与一只眼睛对齐。
放大倍率选项(系统总放大倍率)
快速更改放大倍率选项:
物镜 1 倍,总放大倍率 10 倍
物镜 2 倍,总放大倍率 20 倍
物镜 5 倍,总放大倍率 50 倍
物镜 10 倍,总放大倍率 100 倍
测量台
精密测量台,其标准配置均在出厂前完成非线性误差修正(NLEC)校准。
测量范围
(X,Y):200mm x 100mm 或 150mm x 100mm 测量台选项
(Z) 适用于 3 轴版:98mm
**负荷
10Kg
高度调节
100mm 高度调节。
编码器分辨率
X = 1μm Y = 1μm Z = 0.5μm
照明
底部照明和表面照明可协助测量轮廓和表面特征。
增强底部照明
分区表面照明,采用修正色温的冷色调 LED
通过软件控制照明
底部照明光栏调节
尺寸
A = 680mm(**)
B = 515mm
C = 480mm