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光学仪器及设备
DRV-Z1人机工效学全高清FHD裸眼3D变倍观察
美国SONIX超声显微镜ECHO VS
发射扫描电子显微镜ReguluS
扫描电子显微镜FlexSEM 1000
扫描电子显微镜AeroSurf 15
场发射透射电子显微镜HF-3300
透射电子显微镜HT7800系列
球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700
离子溅射仪MC1000
场发射扫描电镜热场式SU5000
测量/计量仪器
2D大视场测量显微镜TVM35
高精度光学测量显微镜Hawk Elite
工具测量显微镜Swift Pro Elite
尼康CNC影像测量VMZ-R3020
德国Werth三坐标测量机
Werth台式复合式光学三坐标测量机VideoCheck-IP
Werth台式复合式光学三坐标测量机ScopeCheck
Werth双频白光干涉白点测量传感器WIP
Werth自动寻边的测量机EasyScope 3D man
Werth高精度复合式光学三坐标VideoCheck IP Basic
制样/消解设备
Allied楔形电子显微镜制样夹具
Allied手工样品固定器
Allied自动磨抛机E-PREP 4™ (PH-4I™ )
Allied自动研磨抛光机MetPrep 3™
Allied自动研磨抛光机MetPrep
Allied自动注液机AD-5™
Allied双盘手动磨抛机TwinPrep 5™
Allied手动研磨抛光机MetPrep 1™
Allied手动研磨抛光机M-Prep 5™
Allied基材厚度测量仪X-PREP® VISION™
无损检测/无损探伤仪器
Werth计量型CT TomoScope L
Werth计量型CT TomoScope S
Werth计量型CT TomoScope S HA
Werth计量型CT TomoScope XL
Werth计量型CT TomoScope XL NC
Werth计量型CT TomoScope XS
尼康CT扫描工作站XTH450
尼康CT扫描工作站XTH225
尼康CT扫描工作站XTH320 LC
尼康X射线检测站XTV160
半导体行业专用仪器
化学开封机Elite Etch Cu ESD 7200
化学芯片开封机Elite Etch Cu 7100
化学芯片开封机Injector 7400
化学芯片开封机Mega Etch 7300
Nisene化学芯片开封机TotalProtect
Nisene化学芯片开封机JetEtch Pro
激光单粒子效应SEE测试仪
Nisene化学芯片开封机CuProtect
Nisene等离子芯片开封机PlasmaEtch
化学芯片开封机Elite Etch 7000
其他
布洛维通用硬度计DuraVision G5
洛式硬度计DuraJet G5
全自动显微维氏硬度计DuraScan G5
便携式齿轮洛式硬度计N7
便携式深孔内径硬度计N6P
相关仪表
Aberlink-Trimos关节臂坐标测量机
联系方式 |
产品系列
德国 Werth 六十年来专注于多传感器的复合式光学三坐标测量机的开发研究,主要有 Scope、Video、Tomo三大系列测量机,测量范围从几十个毫米到数米,测量精度从几个微米到百个纳米级别。
Werth 测量机的数千个用户和上万台测量机遍及全球。应用行业有汽车工业,航天航空,电子工业,珠宝制
作,塑料注塑,医疗技术,计量单位,铝及塑料压制成型等。? 专注光学 60 多年,
? 25 年的复合式光学测量研发创新
? 专注计算机断层扫描 15 年
? 复合式三坐标测量机全世界的技术引导者
? 欧洲范围内**的复合式的测量机的制造商
? 具有强大的创新能力及专业生产、应用经验
复杂几何尺寸的解决手段—复合式光学坐标机
? **精度固定桥式复合式光学三坐标测量机? 单轴精度达到 0.15μm
? 集成固定光学镜头、变焦镜头、2D/3D 光纤、点激光、色谱、共聚焦、激光双频干涉等传感器,即满足精度,又能扩展应用范围
? 高精度零膨胀系数增量光栅,纳米级分辨率;Z 轴自动聚焦,具有纯光学测量精度
? 广泛应用于**精度零件的测量及 3D 微米级测量(非接触测量、光纤测头测量)
未来的测量技术—X 射线复合式坐标测量机
? 全球**家将X 射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统,实现产品无损可视化准确测量
? 可对工件内外部尺寸精密测量,同时可实现工件材质的缺陷分析。
? 可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。
? 广泛应用于复杂尺寸测量,首件评估,逆向工程,质量控制等
德国Werth 是全球**家提供X 射线三坐标校准及检定并获得 DAKKS 认证的实验室。Werth-TOMO 系列将 X 射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统,无需特殊夹具及复杂的编程便可满足高效、快速、批量地实现产品无损可视化准确测量,并可选配光学、光纤、接触式探针、激光等多种传感器。应用领域:
可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行全尺寸测量、装配评估和无损检测,广泛应用于模具制造、**航天、汽车电子、医疗、塑料、材料及生命科学等领域。
主要特点:
? 五种机型,7 组能量 (130/150/190/225/240/300/450kV),满足不同的测量需要? 高精密机械轴承及线性导轨系统,以及当前**精度的 X 射线测量技术
? 可选配**的复合式传感器(光学、探针、光纤、激光等)
? 测量工件内部尺寸的同时,也可实现材质缺陷分析
? WinWerth 软件经德国国家计量院 PTB 长度标准认证
? Winwerth Segmentation 技术,无需 3D 模型,自引导寻边,测量更准,效率更高
? WinWerth Volume X 射线技术,行业首推的多材料边界测量技术,自动寻边、操作简单,无需丰富经验即可满足较高的重复性与再现性,更好地应用于装配分析
? WinWert **拟合(Bestfit)及公差拟合(Tolerancefit)可进行轮廓匹配分析及三维CAD 工件公差比对
? **的 X 射线传感器独立校准系统
? **的栅格扫描技术,既可进一步提高分辨率,又可扩展测量范围
? **的 ROI 技术,保证全局快速扫描,又能对细节部分进行高清重构
技术参数:
型号 | TOMOCHECKSHA | TOMOSCOPES | TOMOSCOPEL | TOMOSCOPEXL | |
X射线源管电压(可选) | 130/160/190/225 | 130/160/190/225 | 225/240/300 | 225/240/300/450 | |
**测量空间(直径) | mm | 204 | 204 | 327 | 500 |
**测量空间(高度) | mm | 434 | 398 | 517 | 710 |
MPE-E(纯CT传感器) | μm | (2.5+L/150) | (4.5+L/75) | (4.5+L/75) | (4.5+L/75) |
MPE-P(纯CT传感器) | μm | 2.5 | 4.5 | 4.5 | 4.5 |
MPE-E1(单轴精度) | μm | (0.25+L/500) | (2.5+L/120) | (2.5+L/120) | (2.5+L/120) |
MPE-E2(平面精度) | μm | (0.7+L/400) | (2.9+L/100) | (2.9+L/100) | (2.9+L/100) |
MPE-E3(空间精度) | μm | (1.5+L/300) | (4.5+L/75) | (4.5+L/75) | (4.5+L/75) |
探测板*小像素尺寸 | μm | 50 | 50 | 75 | 75 |
探测板**尺寸 | mm2 | 113X150 | 325X195 | 400X400 | 400X400 |
分辨率 | μm | 0.01 | 0.1 | 0.1 | 0.1 |
定位速度 | mm/s | 60 | 150 | 150 | 150 |
加速度 | mm/s2 | 250 | 300 | 350 | 350 |
工作台承重 | kg | 2(10可选) | 2(10可选) | 40(75可选) | 40(75可选) |
电源 | V | 3X400N/PE | 3X400N/PE | 3X400N/PE | 3X400N/PE |
气压 | bar | 7-10,oilfree | 7-10,oilfree | 7-10,oilfree | 7-10,oilfree |
仪器自重 | kg | 4000 | 6000 | 9000 | 11000 |
1). 依据标准ISO 10360 和 VDI/VDE 2617
2). TOMOCHECK 检定温度为 20+/-1℃ 0.5k/h,其他为 20+/-2℃ 1k/h
德国 Werth 的TomoScope XS 系列将 X 射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统来实现产品无损可视化全尺寸测量,在对工件内外部所有结构尺寸全面的精密测量的同时,可实现工件材质的缺陷分析。TomoScope XS 有130kv 和 160kv 两组能量可选,针对塑料、软胶、小金属件、小模数齿轮、易变形件等产品可实现一键式快速扫描测量,2 分钟即可完成一次扫描。
应用领域:
可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行全尺寸测量、装配评估和无损检测,广泛应用于模具制造、**航天、汽车电子、医疗、塑料、材料及生命科学等领域。主要特点:
? 整体模块化,紧凑占用空间小易搬运,操作简单易上手? 坚固的花岗岩基座,保证机器具有高稳定性;高精密气浮转台系统,确保实现**精度的测量
? **技术的 X 射线传感器独立校准系统
? **技术的栅格断层扫描技术,扩展测量范围,提高细节分辨率,实现微小细节高精度测量
? WinWerth 三坐标测量软件,界面友好操作简单,德国国家计量院 PTB 长度标准认证
? WinWerth 优异的图形处理及 3D 重建技术(实时扫描重构),测量速度更快
? WinWerth Muti-ROI(**技术)任意局部区域扫描功能,在同一基准下对工件任意感兴趣区域实现微小细节尺寸精准测量,提高测量效率
? WinWerth 体素测量模块,基于 2D 截面实现 3D 数据量测,自动寻边,多种滤波,测量过程犹如离线操作光学三坐标测量机,实现复合材料任意截面的尺寸测量
? WinWerth 独有的 OFT 飞行测量模块(**技术),实时扫描重构,连续图像提取,测量速度提升 3-10 倍
? WinWerth 模具修模工具(**技术),比对实测与 CAD 模型的偏差,自动补偿并生成新模型,缩短修模改模周期
? 维护保养简单成本低,预调好灯丝即插即用,维护周期一年一次
技术参数: | |||||
主机 | 测量工件直径 | D=55mm(120mm可选) | 测量工件长度 | L=49mm(97mm可选) | |
光栅分辨率 | 0.1μm | **承重 | 10kg | ||
尺寸 | 1300x 583x 1370mm | 重量 | 600kg | ||
XYZ轴控制方式 | CNC全自动伺服电机马达控制或操纵杆手动控制 | ||||
精度 | CT传感器 | MPE-P:6.5um | |||
MPE-E:(6.5+L/75)um | |||||
MPE-SD:(5.5+L/100)um | |||||
X射线源 | X射线模式 | 微焦点透射射线源 | X射线管电压 | 130kV(160KV可选) | |
X射线探测 | 规格 | 非晶硅平板探测器 | 像素 | 1024x1024(2940x2304可选) | |
平板尺寸 | 65mmx57mm(146mmx114mm,200mmx200mm可选)) | ||||
精密转台 | 结构 | Werth精密气浮转台 | 分辨率 | 0.36分 | |
定位速度 | 150mm/s | 加速度 | 350mm/s | ||
屏蔽系统 | 全防护安全等级 | CE及EMD认证,辐射安全符合DIN54113-3E安全标准 | |||
工作环境 | 气压 | 5.5-10bar | 颗粒 | <0.05mg/m3 | |
温度 | 20°±2°温度梯度:1K/h | 湿度 | 40-70% |
备注:1) 依据标准 VDI/VDE 2630 2) Temp:20℃±2k,△=1K/h 样件质量 m≤2kg
复杂结构的全面测量:
连接器行业 塑料行业 医疗行业
微小尺寸的精密测量:
喷油嘴测量(汽车、航空、航天行业)
复合材料的内部尺寸测量及装配分析:
电气行业 塑胶行业 钟表行业
汽车及零部件行业
无损缺陷检测、理化分析:
内部材质裂纹分析 自动寻找出内部所有砂孔, 并色彩显示出对应的尺寸
内部砂孔探测评估
特殊工业内部结构分析及高精度仿真:
特殊应用_粗糙度测量 玻璃纤维在塑料强度强化中的应用 压接接触件应用