手机版 |
产品分类 |
光学仪器及设备
DRV-Z1人机工效学全高清FHD裸眼3D变倍观察
美国SONIX超声显微镜ECHO VS
发射扫描电子显微镜ReguluS
扫描电子显微镜FlexSEM 1000
扫描电子显微镜AeroSurf 15
场发射透射电子显微镜HF-3300
透射电子显微镜HT7800系列
球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700
离子溅射仪MC1000
场发射扫描电镜热场式SU5000
测量/计量仪器
2D大视场测量显微镜TVM35
高精度光学测量显微镜Hawk Elite
工具测量显微镜Swift Pro Elite
尼康CNC影像测量VMZ-R3020
德国Werth三坐标测量机
Werth台式复合式光学三坐标测量机VideoCheck-IP
Werth台式复合式光学三坐标测量机ScopeCheck
Werth双频白光干涉白点测量传感器WIP
Werth自动寻边的测量机EasyScope 3D man
Werth高精度复合式光学三坐标VideoCheck IP Basic
制样/消解设备
Allied楔形电子显微镜制样夹具
Allied手工样品固定器
Allied自动磨抛机E-PREP 4™ (PH-4I™ )
Allied自动研磨抛光机MetPrep 3™
Allied自动研磨抛光机MetPrep
Allied自动注液机AD-5™
Allied双盘手动磨抛机TwinPrep 5™
Allied手动研磨抛光机MetPrep 1™
Allied手动研磨抛光机M-Prep 5™
Allied基材厚度测量仪X-PREP® VISION™
半导体行业专用仪器
化学开封机Elite Etch Cu ESD 7200
化学芯片开封机Elite Etch Cu 7100
化学芯片开封机Injector 7400
化学芯片开封机Mega Etch 7300
Nisene化学芯片开封机TotalProtect
Nisene化学芯片开封机JetEtch Pro
激光单粒子效应SEE测试仪
Nisene化学芯片开封机CuProtect
Nisene等离子芯片开封机PlasmaEtch
化学芯片开封机Elite Etch 7000
无损检测/无损探伤仪器
Werth计量型CT TomoScope L
Werth计量型CT TomoScope S
Werth计量型CT TomoScope S HA
Werth计量型CT TomoScope XL
Werth计量型CT TomoScope XL NC
Werth计量型CT TomoScope XS
尼康CT扫描工作站XTH450
尼康CT扫描工作站XTH225
尼康CT扫描工作站XTH320 LC
尼康X射线检测站XTV160
其他
布洛维通用硬度计DuraVision G5
洛式硬度计DuraJet G5
全自动显微维氏硬度计DuraScan G5
便携式齿轮洛式硬度计N7
便携式深孔内径硬度计N6P
相关仪表
Aberlink-Trimos关节臂坐标测量机
联系方式 |
产品系列
产品描述
ScopeCheck 300/200/200主要特点:
◆适用于计量室和现场测量的高性能复合型三坐标测量机
◆ 高精度重载型大理石基座,整体落地式结构,确保测量稳定性
◆ 模块化测量系统设计,解决了特殊工件测量问题,如测量花键跨棒距
◆ 强大滤波功能,能够完成复杂的滤波如:噪声滤波、除尘滤波、毛刺滤波等,保证测量准确性
◆ 人性化操纵杆面板具有元素快捷键按钮,例如具有点、线、圆、面等快捷按键,操作灵活
◆ 可选配Werth Zoom**变焦系统,80毫米大工作距离,十级自动变焦
◆ 选配接触式测头、点激光、线激光、光纤、色敏(测量透明工件)各种 传感器及彩色CCD图像处理系统
技术参数:
型号 | ScopeCheck300/200/200(精密型) | ScopeCheck300/200/200(标准型) | |
测量范围 | (X轴) | 300mm(400mm可选) | 300mm(400mm可选) |
(Y轴) | 200mm | 200mm | |
(Z轴) | 200mm | 200mm | |
分辨率 | 0.1μm | 0.1μm | |
工作距离 | 50mm(80mm选配) | 50mm | |
工作台承重 | 30kg(更大可选) | 30kg(更大可选) | |
定位速度 | 200mm/s2 | 200mm/s2 | |
加速度 | 350mm/s2 | 350mm/s2 | |
仪器重量 | 380kg/480kg | 380kg/480kg |