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产品分类 |
光学仪器及设备
DRV-Z1人机工效学全高清FHD裸眼3D变倍观察
美国SONIX超声显微镜ECHO VS
发射扫描电子显微镜ReguluS
扫描电子显微镜FlexSEM 1000
扫描电子显微镜AeroSurf 15
场发射透射电子显微镜HF-3300
透射电子显微镜HT7800系列
球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700
离子溅射仪MC1000
场发射扫描电镜热场式SU5000
测量/计量仪器
2D大视场测量显微镜TVM35
高精度光学测量显微镜Hawk Elite
工具测量显微镜Swift Pro Elite
尼康CNC影像测量VMZ-R3020
德国Werth三坐标测量机
Werth台式复合式光学三坐标测量机VideoCheck-IP
Werth台式复合式光学三坐标测量机ScopeCheck
Werth双频白光干涉白点测量传感器WIP
Werth自动寻边的测量机EasyScope 3D man
Werth高精度复合式光学三坐标VideoCheck IP Basic
制样/消解设备
Allied楔形电子显微镜制样夹具
Allied手工样品固定器
Allied自动磨抛机E-PREP 4™ (PH-4I™ )
Allied自动研磨抛光机MetPrep 3™
Allied自动研磨抛光机MetPrep
Allied自动注液机AD-5™
Allied双盘手动磨抛机TwinPrep 5™
Allied手动研磨抛光机MetPrep 1™
Allied手动研磨抛光机M-Prep 5™
Allied基材厚度测量仪X-PREP® VISION™
无损检测/无损探伤仪器
Werth计量型CT TomoScope L
Werth计量型CT TomoScope S
Werth计量型CT TomoScope S HA
Werth计量型CT TomoScope XL
Werth计量型CT TomoScope XL NC
Werth计量型CT TomoScope XS
尼康CT扫描工作站XTH450
尼康CT扫描工作站XTH225
尼康CT扫描工作站XTH320 LC
尼康X射线检测站XTV160
半导体行业专用仪器
化学开封机Elite Etch Cu ESD 7200
化学芯片开封机Elite Etch Cu 7100
化学芯片开封机Injector 7400
化学芯片开封机Mega Etch 7300
Nisene化学芯片开封机TotalProtect
Nisene化学芯片开封机JetEtch Pro
激光单粒子效应SEE测试仪
Nisene化学芯片开封机CuProtect
Nisene等离子芯片开封机PlasmaEtch
化学芯片开封机Elite Etch 7000
其他
布洛维通用硬度计DuraVision G5
洛式硬度计DuraJet G5
全自动显微维氏硬度计DuraScan G5
便携式齿轮洛式硬度计N7
便携式深孔内径硬度计N6P
相关仪表
Aberlink-Trimos关节臂坐标测量机
联系方式 |
产品系列
产品特点
SONIX Echo-LS 能检测到小至 0.05um 的缺陷,而且对于 bump、叠 die(3D 封装)、倒装芯片及各种传统的塑料封装等具有**的检测性能。提高生产效率和产量,使用 ECHO 的设备和软件
容易的设置和使用
工艺过程监测
合格/失效分选
专业认证
SONIX 扫描探头频率范围从 10MHz 到 300MHz,适合各种类型的应用和材料。
其它关键特点:
减少实验室空间(占地面积小)
键盘快捷键(方便移动操作)
全焊接机身框架(促进平台稳定性)
降低水槽高度(人体工程学设计)
可同时进行反射扫描和透射扫描
** 360 度可视
超大扫描面积
水槽底部倾斜(易于排干水)
探头随 Z 轴移动(取代托盘上下移动)
可滑动支架
符合欧洲机械指令
紧凑、稳定的结构设计(低维护)
符合 CE,SEMI S2,NRTL
可滑动的电气面板(方便维护)
防静电涂层(安全罩、水槽、门等)
规格参数:
扫描轴(X 轴):
定位装置: 线性伺服马达
**速度:1000mm/sec
重复精度:+/-0.5um
编码器分辨率:0.5um
**扫描区域:350mm
步进轴(Y 轴):
定位装置:低电磁干扰导轨式步进马达
分辨率:0.25um
**扫描区域:350mm
聚焦轴(Z 轴):
定位装置:低电磁干扰导轨式步进马达
分辨率:0.25um
**行程:50mm
夹具:
JEDEC 标准尺寸托盘夹具
扫描平台可固定特有的托盘夹具
透射杆探头固定
机台尺寸:
W31”xD31”xH48’’(约长 79cm*宽 79cm*高 122cm)
流体系统:
循环泵和 5um 过滤器
超声波仪器
DPR500 接收器 配置 L2/H4 脉冲发生器
可选 U4 超高频脉冲发生器
其它:
带脚轮的摆放桌
紧急开关和安全锁
较低的取放样品区域
其它特色软件功能选项
TAMI SCAN: 一次扫描得到*多 200 张断层图像
ICEBERG: 强大的离线分析技术
WinIC Pro: 增加功能和分析
WinIC Offiline:远程分析
Waveform Simulator/Beam Emulator :波形仿真器
ECHO 机台面板与 WinIC 软件的组合,给用户提供一个强大、简易使用的分析工具。WinIC 软件是 Sonix 公司**研发的超声波扫描显示镜成像软件,提供先进的图像分析功能以帮助定量和定性分析图像数据。WinIC 使用大量的图形和屏幕指导帮助所有用户,从入门到精通。
SONIX 软件优势
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● 可编程扫描,自动分析 定制扫描程序,一键开始扫描,自动完成分析,生成数据 |
● FSF表面跟踪线 样品置于不平的情况下,自动跟踪平面,获取同一层面图片 |
● ICEBERG离线分析 存储数据后,可在个人电脑上进行再次分析 |
● TAMI断层显微成象扫描 无需精确选择波形,可任意设定扫描深度及等分厚度,一次扫描可获得200张图片,*快速完成分析。 |
SONIX 软件 - 应用于塑封FlipChip和Stacked Die产品的成像功能